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HPS58004薄膜方阻面测试专用极板式测试极
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HPS58004薄膜方阻面测试专用极板式测试极

             HPS58004极板式测试极是一款专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的面测试电极,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),塑料薄膜、金属薄膜、金属镀层等同类物质的薄层电阻。

           带弹簧测试探头, 接触可靠, 工作稳定, . 使用时只要把探头轻轻压在被测镀膜上面,   无需任何调节,最新款方阻仪用5芯专用插座代替原有的香蕉插座,使得线缆不易折损,探头的使用寿命极大延长。